반도체 패키징 시험기
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반도체 패키징 시험기 				
			
			
				
				
				
				
				
					 
					Wafer OCR Barcode System
					
						개요
						
							- 입고된 Wafer의 Barcode 정보와 분류정보를 Barcode Scanner와 OCR로 인식하여 분류하고, 인식된 정보를 관리 시스템에 연동
 
					
						특징
						
							- Wafer 이송 트레이에 새겨진 Barcode 및 분류정보를 인식
- 인식된 정보를 저장하고 분류하여 물류 관리 시스템에 Upload함
- 인식된 정보에 맞춰 새로운 물류 관리용 Barcode를 생성하고, 생성된 Barcode를 출력하여 이송 트레이에 자동으로 부착
 
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